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涂層測厚儀的遵守規(guī)定

更新時間：2021-01-25 點擊次數(shù)：1211

a 基體金屬特性

對于磁性方法，標準片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應當與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。

對于渦流方法，標準片基體金屬的電性質，應當與試件基體金屬的電性質相似。

b 基體金屬厚度

檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度，如果沒有，可采用3.3中的某種方法進行校準。

c 邊緣效應

不應在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內轉角等處進行測量。

d 曲率

不應在試件的彎曲表面上測量。

e 讀數(shù)次數(shù)

通常由于儀器的每次讀數(shù)并不*相同，因此須在每一測量面積內取幾個讀數(shù)。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內進行多次測量，表面粗造時更應如此。

f 表面清潔度

測量前，應清除表面上的任何附著物質，如塵土、油脂及腐蝕產物等，但不要除去任何覆蓋層物質。

福建精析儀器有限公司

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